日置C测试仪3504-40 15901492495

日置C测试仪3504-40 15901492495ttt封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的

日置C测试仪3504-40 15901492495ttt


封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等







高速测量2ms
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件




测量参数
Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）

测量范围
C:0.9400pF～20.0000mFD:0.00001～1.99000

基本确度
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数

测量频率
120Hz, 1kHz

测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V测量范围:CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻
5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）

显示
发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）

测量时间
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能
4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）

电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA

体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件
电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1
不能单独使用,测量时需要选用测试冶具及探头:
SMD测试冶具 9699,底部 SMD电极操作频率:DC～120MHz测量对象尺寸：W:1.0～4.0mm H:1.5mm
SMD测试冶具 9677,侧面 SMD 电极操作频率:DC～120MHz 测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9263,DC～5 MHz, 直结型
测试冶具 9262,DC～5 MHz, 直结型
测试冶具 9261,DC～5 MHz, 1 m
针型测试探头 9143,DC～5 MHz, 1 m
4端子测试探头 9140,DC～100 kHz, 1 m GP-IB连接电缆 9151-02 2m 长




打印机 9442,电源转换器 9443-02,连接电缆 9444适用于9442, 线长:1.5 m,记录纸 1196
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